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LW400LJT

LW400LJT


芯片檢查顯微鏡
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儀器用途:

LW400LJT適用于對(duì)不透明物體的顯微觀察。采用無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)偏光觀察、暗場(chǎng)觀察等功能。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察.

性能特點(diǎn):

1、配置大視野目鏡和長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡(無(wú)蓋玻片),

2、配置大移動(dòng)范圍的載物臺(tái),移動(dòng)范圍:8"×8"(204mm×204mm)

3、粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu),粗動(dòng)松緊可調(diào),帶限位鎖緊裝置,微動(dòng)格值:0.8μm

4、6V 30W鹵素?zé)?亮度可調(diào)

5、三目鏡筒,可切換正常觀察/偏光觀察,

上一個(gè): LW300LJT
下一個(gè): LW200-3JT