微分干涉相襯（Differential Interference Contrast,DIC)又稱為偏光干涉襯度，其利用光束分割雙石英棱鏡的顯微術(shù)，將改良的涅拉斯頓棱鏡置于物鏡之前，并且在90度的截面位置配備起偏器和分析儀,使兩束在物體聚焦面重合,渲染高度差使觀察到顏色變化,通過移動(dòng)物鏡可以改變干涉像通過牛頓色范圍內(nèi)。它不僅可觀察試樣表面更細(xì)微的凹凸,由于試樣表面所產(chǎn)生的附加光程差,使映像具有立體感,并隨干涉光束的光程差的變化對(duì)不同的組織進(jìn)行著色,大大提高了組織襯度。

     微分干涉相襯是利用偏光干涉原理,其光路可分為透射式與反射式兩種,金相分析常用反射式。光路中主要包括起偏鏡、檢偏振鏡、涅拉斯頓棱鏡、聚光鏡、物鏡、目鏡等.光源發(fā)出一束光線經(jīng)聚光鏡射入起偏鏡,形成一線偏振光,經(jīng)半透反射鏡射入涅拉斯頓棱鏡后,產(chǎn)生一個(gè)具有微小夾角的尋常光（O光)和非常光(（e光)的相交平面;再通過物鏡射向試樣,反射后再經(jīng)涅拉斯頓棱鏡合成一束光,經(jīng)過半透反射鏡在檢偏鏡上О光與e光重合產(chǎn)生相干光束,在目鏡焦平面上形成干涉圖像

    微差干涉相襯（DIC）在金相分析中的應(yīng)用主要顯示一般明場(chǎng)下觀察不到的某些組織細(xì)節(jié)，如相變浮凸、鑄造合金的枝晶偏析、表面變形組織等。利用不同相能呈現(xiàn)不同顏色的特點(diǎn)，可作為相鑒別的依據(jù)，特別適應(yīng)分析復(fù)雜合金的組織。此外，DIC裝置在晶體生長、礦物鑒定等方面也有廣泛的用途，在高溫顯微技術(shù)中是一個(gè)非常有用的工具。